AMRNodeElliptic软件包:节点中心的并行求解椭圆问题指南

需积分: 10 12 下载量 76 浏览量 更新于2024-07-21 收藏 401KB PDF 举报
"AMRNodeElliptic.pdf"文档是来自美国劳伦斯伯克利国家实验室(Lawrence Berkeley National Laboratory)的Applied Numerical Algorithms Group (ANAG) 的一份研究资料。这份文档聚焦于节点中心适应性网格细化(Node-Centered Adaptive Mesh Refinement, AMR)在求解椭圆问题上的应用,由P. McCorquodale撰写,日期为2003年4月21日。AMR是一种数值方法,通过动态调整计算网格的分辨率,以更有效地处理复杂物理现象,尤其是在那些区域特性差异显著的问题中,如流体动力学、电磁场模拟或材料科学中的扩散过程。 该软件包的目的是为了提高并行计算的效率,因为AMR能够自动调整网格密度,避免在求解过程中不必要的计算负载,特别是在高分辨率区域。作者强调,虽然文档中提供的信息可能包含正确的内容,但需注意这并非官方的法律保障,也不代表美国政府、加州大学的管理者或其雇员对所披露信息的准确性、完整性或可用性的保证。提及特定商业产品、过程或服务仅是为了描述,并非推荐或认可。 文档还指出,任何观点和意见的表达并不必然代表美国政府、加州大学或相关机构的支持或立场。此外,它也包含了免责声明,声明用户在使用时需自行承担可能产生的风险,包括但不限于侵犯私人权益的可能性。因此,阅读者在利用这份资料进行科研或工程应用时,应结合自身的理解与专业判断,并考虑到可能存在的局限性。这份软件包对于从事高性能计算、数值模拟以及复杂物理问题解决的研究人员和工程师来说,具有重要的参考价值。
2024-10-25 上传
2024-10-25 上传
1. **王志伟-机器视觉与人工智能在工业领域的应用** 该文档提供了天准科技股份有限公司关于机器视觉与人工智能在工业领域的应用信息。天准科技自2005年成立以来,经历了快速发展,尤其是在视觉装备平台领域,涉及工业计量、消费电子、半导体等多个行业。文档还介绍了公司的成长历程、主要产品和服务。 2. **王涛-EULITHA_CIOE Chengdu_share version** 这份文档详细介绍了Eulitha AG公司的高分辨曝光系统,特别是其位移泰伯光刻技术(Displacement Talbot Lithography)。此技术的特点是非接触式曝光、无景深限制、高分辨率以及大面积的均匀性,适合纳米级周期性图案的制备。文档还概述了Eulitha的发展历程和全球布局。 3. **史晓华-光舵纳米压印技术介绍** 文档讲述了光舵公司的纳米压印技术,包括其在不同应用场景下的优势和具体应用实例。光舵的核心产品涵盖了从模板拼接到压印后处理的一整套解决方案,适用于多种微纳结构的加工需求。此外,文档还展示了光舵的滚对板式纳米压印设备的详细规格和能力。 4. **沈璐-光学展会-成都PPT对外** 对于这份文档,提供的信息显示搜索服务异常,因此没有具体的内容可以分析。 5. **钱紫衡-Company + Product Introduction-Alpha Cen-CIOE** 钱紫衡的这份文档主要介绍了Alpha Cen公司及其超表面技术。超表面是一种利用亚波长微纳结构来控制光的强度、相位和偏振的结构,具有单片代替多片、减轻重量、降低成本以及提高热稳定性的优点。文档还提到了Alpha Cen公司的发展历程和关键事件。 6. **刘惠卿-从设计到半导体制程:全面探索超透镜创新仿真流程** 这份文档由刘惠卿展示,内容涉及从设计到制造超透镜的创新仿真流程。文档提到了使用仿真工具进行超透镜设计,并强调了仿真与制造互动的重要性,以及如何利用先进的仿真技术来优化超透镜的设计和制造过程。 7. **李斌成-高功率激光薄膜测试技术** 该文档由李斌成教授讲解,主要介绍了高功率激光薄膜测试技术及相关仪器的研发。文档详细阐述了光腔衰荡技术(CRD)在测量高反射率、透过率和光学损耗方面的应用,展示了通过CRD技术实现大口径元件反射率分布的自动扫描测试。此外,还涉及了反射率均匀性测量、光学损耗分布等方面的研究成果。