半导体测试详解：FT术语、DPS、PMU与关键组件

本文主要介绍了半导体测试中的关键术语，这些术语在FT（ Functional Testing）过程中起着至关重要的作用。首先，我们来详细解析几个核心概念： 1. **组件管脚（Input and Output Pins）**： - **Input Pin**：作为外部信号与组件内部逻辑之间的接口，它接收外部提供的电压信号，并将其转换为逻辑0或逻辑1的电平，用于驱动组件内部的电路。 - **Output Pin**：同样作为组件内外部通信的桥梁，它可以提供正确的电压输出，给出逻辑0或逻辑1的信号，并能控制电流流入流出（IOL/IOH）。 - **Three-State Output Pin**：与普通输出pin功能类似，但额外具备高阻状态的能力，即关闭输出，防止干扰其他电路。 - **Bi-directional Pin**：这种管脚具有双向传输能力，既可以作为输入接收信号，又可以作为输出提供信号，同时也支持关闭（高阻状态）。 2. **测试系统组件**： - **Pin Electronics (PE) Cards 或 I/O Cards**：测试头（test head）中的电路板，负责与DUT（Device Under Test，待测组件）进行信号交互，提供输入和接收输出。 - **Drivers**：安装在PE卡上的电路系统，为DUT提供逻辑电平（0和1），驱动信号到指定的输入管脚。 - **Signal Format**：驱动电路系统发送到DUT的信号波形，规定了信号的特定模式和协议。 3. **测试系统检测**： - **Comparators**：用于检测来自DUT的逻辑电平（0和1），在功能测试期间对信号进行对比判断。 - **Outputsampling**：在功能测试时，定义了对DUT输出信号进行评估的时间点，通常通过比较器来确定输出是否符合预期的逻辑电平。 4. **测试过程控制**： - **Output Mask**：在功能测试过程中，为每个测试通道提供了一种方法，即允许或禁止特定输出的比较，以控制测试的严格程度或适应不同条件下的测试需求。 - **Dynamic Loads**：安装在PE卡上的电路系统，既可以模拟负载测试DUT的性能，也可以根据程序设定提供正负信号以进行动态测试。 这些术语共同构成了半导体测试的基本框架，它们涵盖了信号的传输、处理、检测和测试系统的设计与操作，对于理解和实施有效的半导体功能测试至关重要。在实际应用中，熟悉并熟练运用这些术语能够提高测试效率，确保产品的质量和一致性。