K60微控制器模块信号描述与JTAG接口详解

"模块信号描述表-2020数模国赛b题国家二等奖" 本文档是关于飞思卡尔K60系列微控制器的参考手册，主要针对的是2020年数模国赛B题的二等奖内容。该文档详细介绍了K60微控制器的芯片级信号与模块信号之间的关联，以及各个信号的功能和方向。K60微控制器是一个高性能的MCU，常见于工业控制、汽车电子和嵌入式系统等领域。 在10.4.1章节中，核心模块的信号描述被特别提及，这里涉及到JTAG（Joint Test Action Group）接口，一种用于芯片级测试的标准。表10-2列出了JTAG相关的信号： 1. JTAG_TMS（JTAG测试模式选择）：这是一个双向I/O信号，用于在JTAG测试过程中切换设备的不同测试模式。 2. JTAG_TCLK（JTAG测试时钟）：这是一个输入信号，为JTAG操作提供时钟，确保所有设备在正确的时间进行数据传输。 3. JTAG_TDI（JTAG测试数据输入）：这是一个输入信号，用于向设备输入测试数据。 JTAG接口是调试和测试微控制器的重要工具，它允许用户访问内部寄存器，执行边界扫描，甚至进行在线程序更新。JTAG_TMS、JTAG_TCLK和JTAG_TDI是JTAG链路中的基本信号，它们共同构成了IEEE 1149.1标准的一部分。 文档还提到了K60P144M100SF2RM，这可能是K60系列的一个具体型号，具有144个引脚，工作频率为100MHz，具有闪存和SRAM。文档涵盖了多个不同封装和内存配置的K60微控制器型号，适用于各种应用场景。 文档的结构包括介绍、目的、目标读者和习惯性约定等部分，旨在为系统设计工程师和软件开发者提供全面的K60系列MCU使用指南。其中，1.2.1编号制度的部分提到下标系统，如使用“b”来表示二进制数字，这是在技术文档中常见的表示方式，有助于理解和解析硬件地址或数据。 这个资源提供了有关K60微控制器JTAG接口及其信号功能的详细信息，对于理解如何利用这些信号进行芯片级测试和调试至关重要。对于进行K60系列微控制器开发的工程师来说，这份手册是不可或缺的参考资料。