集成电路测试原理与应用实战研讨会：12月22-23日，华虹科技园

本讲义聚焦于集成电路测试技术的核心内容，旨在深入探讨IC设计与应用中的关键环节。会议将于12月22日至23日在华虹科技园二楼报告厅举行，活动安排紧凑且实用，包括基础理论讲座和具体应用讲解。 在基础理论部分（12月22日下午），由孙铣总工程师主讲，内容涵盖了模拟测试机V/I源的动态性能分析，包括其四象限功能（恒流、恒压、钳位）、对外部高频信号的干扰处理、输出信号变化时动态阻抗的影响、响应时间和量程转换的实际应用。此外，他还将讲解Kelvin四线测试的正确使用、浮动源的概念及其在硬件和软件设计中的实际应用，以及多工位并测技术的要求，特别是针对小信号测试的原理和技巧。 应用篇讲座（12月23日）则更为实战，由相关应用工程师分享具体器件的测试方法。内容涉及PWM器件、LDO器件、D类和AB类音频功放的测试原理与技巧，4线触摸屏驱动电路的测试，以及精细测量小电容参数的方法。这将帮助工程师们提升实际操作技能，确保产品测试的精确性。 产品篇由徐捷爽市场销售总监负责，他将重点介绍新一代模拟混合信号测试系统AccoTestSTS8200FLEX的特点，强调该系统的高性能和低成本优势，以及如何通过打造高性价比的测试设备，树立全球可信赖的ATE（Automated Test Equipment）品牌。 整场研讨会不仅涵盖了理论知识，还结合了实际应用和产品演示，为参与者提供了全面了解和掌握IC测试技术的宝贵机会。无论是测试设备的设计者还是实际应用工程师，都能从中收获实用的知识和经验。参加者可通过张婷小姐（手机号15902121377）获取更多详情或咨询住宿预订等问题。