集成电路测试原理与应用实战研讨会:12月22-23日,华虹科技园
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更新于2024-08-02
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本讲义聚焦于集成电路测试技术的核心内容,旨在深入探讨IC设计与应用中的关键环节。会议将于12月22日至23日在华虹科技园二楼报告厅举行,活动安排紧凑且实用,包括基础理论讲座和具体应用讲解。
在基础理论部分(12月22日下午),由孙铣总工程师主讲,内容涵盖了模拟测试机V/I源的动态性能分析,包括其四象限功能(恒流、恒压、钳位)、对外部高频信号的干扰处理、输出信号变化时动态阻抗的影响、响应时间和量程转换的实际应用。此外,他还将讲解Kelvin四线测试的正确使用、浮动源的概念及其在硬件和软件设计中的实际应用,以及多工位并测技术的要求,特别是针对小信号测试的原理和技巧。
应用篇讲座(12月23日)则更为实战,由相关应用工程师分享具体器件的测试方法。内容涉及PWM器件、LDO器件、D类和AB类音频功放的测试原理与技巧,4线触摸屏驱动电路的测试,以及精细测量小电容参数的方法。这将帮助工程师们提升实际操作技能,确保产品测试的精确性。
产品篇由徐捷爽市场销售总监负责,他将重点介绍新一代模拟混合信号测试系统AccoTestSTS8200FLEX的特点,强调该系统的高性能和低成本优势,以及如何通过打造高性价比的测试设备,树立全球可信赖的ATE(Automated Test Equipment)品牌。
整场研讨会不仅涵盖了理论知识,还结合了实际应用和产品演示,为参与者提供了全面了解和掌握IC测试技术的宝贵机会。无论是测试设备的设计者还是实际应用工程师,都能从中收获实用的知识和经验。参加者可通过张婷小姐(手机号15902121377)获取更多详情或咨询住宿预订等问题。
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zhangdl826
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