多信号模型在板级电路可测性设计与分析中的应用

"基于多信号模型的板级电路可测性设计与分析技术，由周毓龙和杨春玲撰写，探讨了如何运用多信号模型提高板级电路的内建自测试（BIST）能力，降低测试成本和周期。文章阐述了多信号模型的构建过程，并提出了基于该模型的可测性设计规则。通过实例分析，证明了多信号模型在电路可测性评估和设计中的实用价值。" 正文: 在现代电子工程领域，板级电路的复杂性和规模不断增长，导致测试和故障诊断的难度加大。板级电路内建自测试技术成为了解决这一问题的关键，它允许电路自我检测，减少了对外部测试设备的依赖，从而节省了测试时间和成本。然而，设计具备自测试能力的电路结构是一项挑战，需要考虑诸多因素，包括可测性分析和设计。 多信号模型是分析板级自测试系统可测性的一种高效工具，它通过对信号的多维度属性进行建模，弥补了传统结构化模型和依赖性模型的不足。结构化模型过于简化，可能无法精确反映系统的真实状态，而依赖性模型虽然考虑了功能故障信息，但在故障影响关系的分析上可能不够全面。多信号模型则结合两者优点，提供了一种更加精确和全面的分析方法。 多信号模型首先定义了功能故障和完全故障的概念，区分了不同故障对系统功能的影响程度。通过识别组件影响的信号，模型可以详细描述故障如何传播和影响整个系统的性能。这使得设计者能够更准确地评估系统的可测性，从而在设计阶段就考虑到测试的可行性，避免后期修改带来的额外成本。 在可测性设计规则方面，文章提出了基于多信号模型的策略，这些规则有助于设计出更容易测试的电路结构。设计者可以利用这些规则来优化电路布局，确保关键组件和信号路径易于访问，以便进行有效的故障诊断。 以板级数据采集器为例，文章展示了如何运用多信号模型进行可测性分析和设计。通过具体的应用实例，验证了该模型在实际电路设计中的实用性，能够有效地指导设计者优化电路的可测性，提升故障诊断的效率。 基于多信号模型的板级电路可测性设计与分析技术为电子工程师提供了一种强大且实用的工具，能够在电路设计初期就考虑到测试的需求，以降低测试复杂性，节约成本，提高系统的可靠性和维护性。这种方法不仅适用于数字电路，也适应于混合信号系统，涵盖了模拟电路、微控制器和总线等不同类型的组件。因此，对于从事板级电路设计的工程师来说，理解和掌握多信号模型的理论和应用至关重要。