华大半导体MCU低功耗调试方法指南(Rev1.0)

本篇文档是华大半导体关于32位MCU系列产品的低功耗模式调试指南，主要针对HC32L110、HC32L110C、HC32L136、HC32F030、HC32F003、HC32F005以及HC32L130等型号的MCU进行讲解。主要内容包括： 1. 工作模式介绍：MCU有三种工作模式：运行模式（ActiveMode），在这种模式下CPU运行，所有片内外设和SWD接口都处于活动状态；休眠模式（SleepMode），CPU停止运行但保持外设活跃和SWD接口可用；深度休眠模式（DeepSleepMode），CPU和大部分外设关闭，仅保留最低级别的功能，SWD接口也被暂停。 2. 低功耗模式调试方法： - 休眠模式调试：在进入休眠前的关键位置（如__WFI()函数前后）设置断点，然后在开发环境中选择全速执行，当程序到达断点时，可以进行调试。 - 深度休眠模式调试：由于深度休眠模式下SWD接口不可用，需要借助休眠模式来间接调试。即首先在代码中安排唤醒条件，然后在休眠模式下调试。 3. 注意事项：此文档是补充说明，不替代用户手册，对于MCU的具体功能和寄存器操作，用户应参考用户手册进行操作。 4. 文档结构：文档共6页，包含摘要、工作模式详细介绍、低功耗模式调试步骤、总结以及其他相关信息，最后列出了版本信息和联系方式。 通过阅读这篇文档，开发者可以了解如何在各种低功耗模式下有效地进行MCU的调试，以便优化设备的电池寿命和性能表现。这对于设计和维护低功耗应用至关重要。