提高传感器芯片测试效率：扫描测试与自动向量生成方法

本文主要探讨了一种针对引脚数目有限的传感器和电源管理芯片的创新扫描测试方法以及自动测试向量生成策略。随着科技的进步，如可穿戴设备、物联网、医疗和工业控制等领域对这类芯片的需求日益增长，传统测试方式因芯片引脚数量受限而面临挑战，无法有效利用标准的JTAG协议进行测试，这使得芯片的测试复杂度增加。 作者张志晗和蒋剑飞在论文中首先研究了TetraMAXATPG生成的STIL格式测试文件和测试流程。他们提出了一种基于仅需两根信号线的扫描测试方法，这种方法能够克服引脚数目较少带来的测试难题。通过这种设计，即使在资源受限的情况下，也能确保芯片功能的充分测试。 该论文详细介绍了如何利用这种方法生成自动测试向量，这是一种自动化的过程，能够节省人力并提高测试效率。测试向量是用于驱动芯片输入端口，以便识别和定位潜在故障的特定数据序列。通过这种方法，可以更有效地发现芯片制造过程中的缺陷，并在较短的时间内完成测试。 为了验证这一方法的有效性和实用性，论文提供了一个在温度传感器芯片上的实际应用案例。通过对测试时间和额外芯片面积成本的分析，展示了这种方法在保持测试效果的同时，能够有效平衡测试效率和硬件资源的成本。 关键词方面，"扫描测试"突出了本文的核心技术，"测试协议"强调了与传统协议的区别，"自动测试向量生成"则体现了创新之处，而"芯片测试"则总结了整个研究的主题。整体上，这篇论文对于集成电路测试领域的工程师和技术人员具有重要的参考价值，特别是在设计和优化低引脚数芯片的测试方案时。