JTAG调试详解：TAP与边界扫描架构在ARM7TDMI中的应用

JTAG，全称为Joint Test Action Group，是用于测试和调试集成电路的标准接口，由IEEE 1149.1标准定义。本文主要针对ARM JTAG调试进行详细介绍，尤其关注于OPEN-JTAG开发小组所阐述的内容。 文章首先从ARMJTAG的基本原理入手，TAP（Test Access Port）是JTAG的核心组件，它是设计者预留的测试接口，允许测试工具通过它访问芯片内部的逻辑结构。TAP包含了四个主要信号线：TCK（时钟），TDI（数据输入），TDO（数据输出），以及TMS（模式选择）。通过这些信号，调试器可以执行各种测试模式，如读取或写入内存、执行指令等。 边界扫描（Boundary-Scan）是JTAG调试中的关键技术，它通过在芯片的输入输出引脚周围添加移位寄存器，实现了对芯片内部信号的隔离和监控。这种技术使得调试器能够在不影响正常功能的情况下，直接操作或观察芯片的内部行为。对于输入引脚，边界扫描允许数据的注入；对于输出引脚，可以捕捉其产生的信号。 ARM7TDMI是ARM的一种微处理器架构，它支持JTAG调试，使得开发者能够通过JTAG接口方便地进行硬件调试，包括代码检查、变量跟踪、硬件断点设置等。文章强调，虽然本文提供的内容是作者个人的理解和经验总结，可能会存在一定的局限性，但对初学者来说，已经足够建立起JTAG调试的基础框架。 本文旨在帮助新接触ARM JTAG调试的读者理解其基本原理，包括TAP和边界扫描的结构，以及如何利用这些技术在实际开发中进行故障排查和优化。对于想要深入了解的读者，建议参考IEEE 1149.1标准，以便获得更为详尽的知识。同时，作者鼓励大家积极提问和交流，共同提升对JTAG调试的理解和实践能力。