太赫兹反射扫描成像系统分辨率实验研究：1.273 lp/mm

本文主要探讨了连续太赫兹反射扫描成像系统中分辨率测量实验的研究方法和结果。太赫兹成像是利用太赫兹波段的电磁辐射，对物体进行非接触式成像的技术，其空间分辨率是衡量系统性能的关键指标之一。ISO 12233标准被用来定义和评估光学成像系统的分辨率，该标准推荐使用星形分辨率测试卡作为测量工具。 文章中，研究人员制作了一种符合ISO 12233标准的星形分辨率测试卡，通过将其放置在太赫兹点扫描反射成像系统前，获取系统对该测试卡不同空间频率方波的响应曲线。这种方法允许他们测量系统的调制传递函数，即系统对输入信号的不同频率成分的响应能力，这直接影响了系统的最高分辨能力。 实验结果显示，该太赫兹成像系统的分辨率达到了1.273 lp/mm，对应的线宽为0.393 mm，这一数值与传统的刀口法测量结果相一致，表明所用测试卡方法的有效性和准确性。星形测试卡的优势在于其能够方便地进行多次测量，并提供直观且准确的分辨率上限信息，这对于优化系统设计和评估系统性能至关重要。 总结来说，本研究通过实验验证了利用星形分辨率测试卡在连续太赫兹反射扫描成像系统中的应用，为系统分辨率的精确测量提供了一种实用且高效的手段。这对于提升太赫兹成像系统的性能以及推动相关领域的科研工作具有实际意义。同时，这项研究对于其他高精度成像技术，特别是那些依赖于分辨率评估的应用，也具有参考价值。