XSBASE270嵌入式实验：AXDDebugger调试与Flash/RAM调试详解

嵌入式实验手册详细介绍了在ADS集成开发环境中使用AXDDebugger进行ARM系统实验调试的方法。ADS是一个全面的工具集，用于程序编写、编译、连接和生成映像，其中的AXDDebugger尤其便于源代码级别的调试。本指南将分两部分讲解调试过程：在FLASH（ROM）和SDRAM（RAM）上进行调试。 首先，针对在FLASH进行调试，开发者需进行以下步骤： 1. 在TargetSettings中，选择ARMfromELF处理连接器输出的文件，确保能将ELF格式转换为所需的二进制格式。 2. 在ARMLinker选项组内，设置ROBase（只读基地址）为0x00000000，表示代码将写入FLASH，而RWBase（可读写基地址）设为0xa0100000，以便在SDRAM中分配内存空间。 3. Options设置中，Imageentrypoint定义了映像的入口点地址，并指定boot.o文件作为启动点。 4. 在Layout中，确认目标文件和代码段的放置位置，确保它们在映像的开始。 编译和连接完成后，通过Project或快捷键F7执行，会生成映像文件。接下来，如果使用Multi-ICEARM仿真器，需要启动Multi-ICEServer以连接硬件。 为了进行实际调试，需要将映像下载到FLASH，通过命令行工具如jflashmm.exe，传入如pxa270xxx.bin这样的文件名，完成下载过程。此时，可以利用AXDDebugger进行调试，逐步检查代码执行情况和内存状态。 在SDRAM调试方面，通常涉及运行时的内存操作和实时监控，这部分可能涉及到实时数据的抓取和分析，以及在运行过程中对程序逻辑的调试。然而，具体步骤并未在提供的部分内容中详述，通常包括设置断点、查看寄存器值、单步执行等常规调试操作。 这个实验手册提供了在嵌入式开发中使用ADS和AXDDebugger进行有效调试的实用指导，帮助用户优化代码性能并解决潜在问题。通过深入理解和实践这些步骤，开发者能够提高嵌入式系统的开发效率和产品质量。