AFM数据离线分析：NanoscopeAnalysis快速入门与参数设置

AFM数据离线分析软件NanoscopeAnalysis是专门用于AFM（原子力显微镜）数据处理和分析的专业工具。这份文档详细介绍了如何使用这款软件进行简单易行的离线数据分析。首先，用户需打开软件，通过选择“测试条件”，可以设置图像平滑度，包括0阶、1阶、2阶和3阶平滑，其中0阶对应平面内高度值移动，1阶平滑用于斜面拉平，2阶平滑适用于曲面拉平。对于存在异常高的非基底特征，如亮点，用户可以通过遮蔽框功能将其屏蔽，并设置阈值来控制哪些区域被排除在平滑过程之外。 遮蔽框的操作是关键步骤，用户可以通过右键画框来定义需要处理的区域，然后调整Flatten Z thresholding direction（平滑方向）和Mark excluded data（是否标记为异常）选项。一旦遮蔽了非基底部分，就可以执行平滑操作，并在完成后取消标记。这个过程有助于确保结果的准确性。 生成三维图片是另一个重要功能，用户可以通过调整color scale（颜色尺度）来改变图像的颜色范围和色系，以及设置背景颜色和坐标轴显示。用户可以根据需求定制图像的外观，最后通过Export导出三维图片。 对于二维图像的生成，用户可以选择section（切片）功能，通过鼠标在样品图像区域绘制一条线，可以得到该线上的高度和宽度数据。通过调整折线图中的交叉点位置，可以精确测量样品的特征尺寸。例如，蓝色十字叉标记的线代表样品的高度，红色十字叉则代表目标颗粒的宽度。 在进行标记后，用户可以通过export功能保存带有标记的图片，以便于后续的报告或研究。此外，软件还提供了图形输出选项，允许用户对折线图进行单独的导出。 总结来说，NanoscopeAnalysis提供了一套完整的AFM数据分析流程，包括图像预处理、尺寸测量和数据可视化，帮助用户有效地分析和解读复杂的AFM数据。熟练掌握这些功能将极大地提高AFM实验的效率和准确性。