Computed Tomography原理与进展 - Hsieh经典著作

"Computed Tomography: Principles, Design, Artifacts, and Recent Advances 第二版，由Jiang Hsieh编著，是一本CT领域的经典入门书籍，适用于CT技术的学习与研究。该书于2009年由Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE) 和John Wiley & Sons, Inc.联合出版。" 本书详细探讨了计算机断层扫描（Computed Tomography, CT）的基础原理、设计、图像伪影以及最新进展。在CT原理部分，作者深入浅出地介绍了X射线成像的基本概念，包括X射线的产生、衰减特性以及如何通过数学方法重建断层图像。这一部分涵盖了基础物理知识，如傅里叶变换在图像重建中的应用，以及CT扫描仪的工作流程。 在CT设计部分，书中详细讨论了CT设备的硬件组件，如X射线管、探测器阵列、旋转机架、数据采集系统等，同时解释了这些组件如何协同工作以获取高质量的图像。此外，还涉及了多排螺旋CT和能谱CT等高级技术的设计理念。 对于图像伪影，书中列举了多种可能影响图像质量的因素，如运动伪影、部分容积效应、散射辐射以及设备噪声等，并提供了减少或校正这些伪影的方法。这部分内容对于理解实际CT图像分析和诊断至关重要。 关于近期进展，书中涵盖了CT技术的最新发展，包括提高空间分辨率、时间分辨率和剂量效率的策略，以及新兴的应用领域，如心血管成像、介入放射学和分子成像。此外，书中还引用了相关的文献，供读者进一步深入研究。 最后，本书包含详细的参考文献和索引，方便读者查找相关资料，进行深入学习。这是一本适合医学生、放射科医师、生物医学工程师以及其他对CT技术感兴趣的人员的宝贵教材。读者可以通过阅读本书，全面了解CT技术的历史、现状和未来发展趋势，从而提升在CT领域的理论知识和实践技能。