热蒸镀法制备Ge-As-Se硫系玻璃薄膜的结构分析

本文主要探讨了通过热蒸镀技术在石英基底上制备不同化学成分的Ge_xAs_ySe_{1-x-y}硫系玻璃薄膜的过程，并对其拉曼光谱进行了深入研究。拉曼光谱是一种非破坏性的表征技术，用于揭示材料的微观结构和化学键特性。研究范围集中在100至350cm^{-1}的波数区间，这一频段包含了硫系玻璃中关键振动模式的信息。 作者通过细致地分析了随化学组分变化的拉曼光谱特征，发现Ge-Se振动模式在190cm^{-1}附近随着Ge和As含量的增加而增强。这种增强表明这两种元素的存在可能影响了薄膜内部的局部结构或化学环境。另一方面，随着平均配位数（MCN）的增加，As-Se振动模式表现出减弱的趋势，相应的拉曼峰在225cm^{-1}和250cm^{-1}处趋于合并，并向较高的波数区域扩展，这可能是由于As-Se键合模式的改变或优化。 特别值得注意的是，在Ge含量较高的样品中，170至180cm^{-1}处的拉曼峰被识别为由薄膜内部的键缺陷所引起的，这是对薄膜质量的一个重要指标，因为它揭示了在合成过程中可能存在的缺陷或不完整性。 通过对这些数据的分峰拟合，研究人员能够精确地确定各振动模式的强度和频率，从而推断出薄膜的化学结构和原子排列方式。这项工作对于理解硫系玻璃薄膜的生长机制、优化制备工艺以及预测其潜在的应用性能具有重要意义。 该研究利用拉曼光谱作为工具，揭示了化学组分对Ge_xAs_ySe_{1-x-y}硫系玻璃薄膜微观结构的影响，为改进薄膜的性能和设计新的功能材料提供了有价值的科学依据。同时，这也展示了光谱学在材料科学研究中的核心作用，即通过非侵入性手段获取深入的材料信息。