高速DAC测试配置与指标验证详解

本文主要讨论了DAC测试的配置方案，针对高性能电子设备设计中的需求，特别是在移动通信和图像采集等领域，对于高速、高精度ADC（Analog-to-Digital Converter，模数转换器）和DAC（Digital-to-Analog Converter，数模转换器）的测试显得尤为重要。ADC的性能由制造商进行出厂测试，但设计者需验证芯片在实际应用中的性能，这涉及一系列关键参数的测量。 ADC的主要参数包括静态指标（如Differential Non-Linearity, DNL；Integral Non-Linearity, INL；Offset Error；Full Scale Gain Error）和动态指标（如Total Harmonic Distortion, THD；Signal-to-Noise plus Distortion, SINAD；Effective Number of Bits, ENOB；Signal-to-Noise Ratio, SNR；Spurious Free Dynamic Range, SFDR）。测试ADC通常需要精密的仪器，如逻辑分析仪、码型发生器、万用表、示波器、频谱仪以及电源等，如Agilent的16901A逻辑分析仪、81130A和81132A码型发生器，3458A万用表，DSO90254A示波器，E4443A频谱仪，以及E3631A电源。此外，LabVIEW这样的软件也常常用于数据采集和分析。 ADC的测试方案通常包括利用高精度模拟信号源（如ESG或PSG）产生理想信号，通过采样时钟控制ADC对信号进行采样，并使用逻辑分析仪捕获转换后的数据。由于ESG或PSG产生的信号可能含有谐波和杂散，测试时需要额外的滤波器进行精细化调整，滤波器的选择应根据实际信号频率范围。同时，高质量的采样时钟抖动控制也是确保测试准确性的关键因素。 DAC测试配置方案不仅关注硬件设备的选择，还强调了软件工具和技术在测试过程中的作用，以及对精确度和噪声抑制的重视，以确保在实际应用中能够达到预期的性能指标。这对于工程师在设计和验证高速ADC和DAC的性能时具有实际指导意义。