基于受控线性移位的高效BIST测试向量生成方法

本文主要探讨了"论文研究-一种基于受控线性移位的测试向量生成方法"这一主题，由刘铁桥、邝继顺、王伟征和尤志强四位作者共同完成，他们的研究背景是在集成电路测试领域，特别是针对复杂VLSI（大规模集成电路）的可测试性设计，即内建自测试（BIST）。BIST是一种广泛应用的解决方案，它旨在提高电路的测试效率和准确性。 论文的核心焦点在于设计一种高效的测试向量生成器（TPG），即测试模式生成器。传统上，TPG的设计对于BIST的成功至关重要，因为它负责创建用于检测和诊断芯片缺陷的测试信号。然而，当前的研究提出了一种创新的方法，即利用受控线性移位技术。这种方法通过直接存储控制线性移位的首位来生成测试序列，从而降低了测试的成本，包括减少了测试应用时间和存储面积的需求。 这种全速BIST测试向量生成策略的优势在于能够在满足故障覆盖率的要求下，显著提升测试效率。它通过优化的线性移位操作，减少了不必要的数据处理步骤，使得整个测试过程更为高效。这种方法的实施不仅提高了测试的有效性，也对集成电路设计的经济性和资源利用率产生了积极影响。 值得注意的是，该研究得到了国家自然科学基金的支持，项目编号分别为60773207和60673085。研究团队来自湖南大学的计算机与通信学院和软件学院，刘铁桥作为主要研究者，其电子邮件地址为tieqiao120@163.com。 这篇论文对集成电路测试领域的技术进步作出了贡献，特别是在测试向量生成方法上引入了新的控制机制，有望在未来推动该领域的进一步发展和优化。