VLSI测试技术：测试程序与测试器的关键任务

"测试程序和测试器在VLSI领域的核心任务" 在超大规模集成电路（VLSI）设计中，测试程序和测试器扮演着至关重要的角色。它们主要负责四个关键任务，确保集成电路的质量和可靠性。首先，测试程序会生成并发送测试激励信号，这些信号被称为测试矢量，它们模拟集成电路在实际操作中可能遇到的各种输入条件。这些激励信号旨在覆盖尽可能多的设计路径，以检测潜在的问题。 其次，测试器接收被测集成电路在接收到这些激励信号后的响应信息。这些响应数据对于分析集成电路的行为至关重要，因为它们反映了集成电路在不同条件下的实际运行状态。 第三项任务是分析激励与响应之间的关系，以决定下一步的测试矢量。这一过程通常涉及复杂的逻辑分析，旨在找出可能导致错误的任何不一致或异常行为。 最后，测试程序和测试器会根据整个激励序列和响应序列来确定可能存在的故障类型和位置。这一阶段的目的是定位到具体故障发生的电路部分，以便于修复或改进设计。 VLSI测试技术是一个深奥且复杂的领域，涉及多种专业书籍和资源，如《超大规模集成电路测试》、《数字系统测试与可测性设计》等。这些书籍涵盖了数字、存储器和混合信号系统的测试方法，以及可测性设计的理论和实践。 测试系统通常包括精密测量单元（PMU）和管脚电子部件，用于精确地控制和测量集成电路的性能。测试过程中，可能会执行诸如开路与短路测试、直流参数检测、功能测试以及交流参数测试等任务，以确保IC的电气性能和功能正确无误。 自动测试设备（ATE）是VLSI测试中的关键工具，例如Agilent 93000，它能自动化执行一系列测试流程，提高测试效率和准确性。此外，可测性设计（DFT）方法，如特定测试法、结构可测性设计、扫描测试、内建自测试技术和边界扫描可测性设计，都是为了增强集成电路的测试能力，使得故障检测和定位更为便捷。 IC测试是保证集成电路质量和可靠性的基石，它涉及到多个层次，从设计阶段的可测性考虑，到生产阶段的批量测试，再到复杂的故障诊断和定位，都是确保VLSI芯片正常运行不可或缺的部分。