通用图模式匹配逻辑单元映射算法FDUMap

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本文主要探讨了一种基于图模式匹配的逻辑单元映射算法(FDUMap),旨在解决在计算机辅助设计与图形学领域中的电路映射问题。作者从用户设计电路的角度出发,强调了逻辑单元映射在电子设计自动化(EDA)中的关键作用,特别是针对现场可编程门阵列(FPGA)的设计。 首先,章节1.2介绍了用户设计电路的过程,这是逻辑单元映射的基础,因为设计师需要明确电路的功能需求和结构,以便进行有效的映射。这部分可能涉及电路的层次化设计、模块划分以及性能优化等步骤。 接着,章节1.3深入讨论了LC映射问题的数学描述,即如何将电路图抽象为图模型,以便于通过图同构算法进行处理。在这个过程中,引入了图约束条件,这有助于在映射过程中考虑电路的实际物理限制和性能要求,如延迟、面积和功耗等因素。 然后,章节1.4着重介绍了功能电路的概念,这是映射算法的核心输入,它反映了电路的行为特征和功能实现方式。通过理解功能电路,算法可以找到最适合的逻辑单元来实现其功能。 进入第二部分,2.1详细阐述了LC映射的目标函数,即算法需要优化的指标,可能是最小化延迟、最大化并行度或者综合成本等。目标函数的选择直接影响映射的效果和效率。 该算法FDUMap的主要创新在于将图模式匹配的概念融入传统的逻辑单元映射方法中,通过这种方法,算法能适应不同结构的FPGA逻辑单元,并提供更好的通用性。在实验部分,作者展示了FDUMap在实际测试电路上的应用,相比于现有的专用映射算法,FDUMap在通用性上有所提升,平均性能只落后3%左右,表明其在性能和灵活性方面具有竞争优势。 关键词:逻辑单元映射、工艺映射、图模式匹配、现场可编程门阵列。这些关键词突出了文章的核心技术和研究重点,为读者寻找相关文献和理解论文内容提供了关键指引。 这篇文章的核心是介绍了一种新颖的逻辑单元映射策略,它利用图模式匹配来提高映射的灵活性和效率,适用于多种FPGA结构,对于电路设计者来说是一项重要的工具和技术突破。