双频正交光栅一维相移：新型相位测量偏折术

本文研究了一种创新的相位测量偏折术，名为"基于双频正交光栅一维相移的相位测量偏折术"。该方法的主要贡献在于设计了一种新的光栅结构，即单幅正交正弦光栅，它结合了原本独立的水平和垂直一维正弦光栅。通过使用双频光栅技术，这种方法允许在单一相移操作中同时获取两个正交的相位分布信息，简化了传统的测量过程。 在传统方法中，为了得到水平和垂直方向的相位分布，需要分别投影或显示两种独立的光栅，然后进行相移测量，这通常需要至少2×N幅图像（其中N代表至少3个测量点）。相比之下，双频正交光栅相移方法只需5幅图像，大大减少了数据采集的复杂性和时间成本。此外，相比于传统的二维相移机构，该方法只需要一维相移机构，这意味着其具有显著的成本优势和更快的测量速度，同时结构设计更为简洁。 文章详细介绍了双频光栅相移方法的工作原理，以及如何通过这种相移来推导出待测表面的梯度分布，进而复原表面形状。这种方法特别适用于结构光照明和三维成像领域，尤其是在对精度要求高的光学测量应用中，如眼镜片或其他精密零件的表面检测。 关键词：测量、正交光栅、相移、相位测量偏折术、结构光照明、三维成像。作者刘元坤等人通过实测眼镜片的结果，证实了这种方法的有效性和实用性，证明了其在提高测量效率和降低成本方面的潜力。这项研究对于改进光学测量技术，特别是对于那些追求高效率和低成本的工业生产环境具有重要意义。