低压差线性稳压器电磁抗扰度测试与非线性建模研究

该研究论文深入探讨了低压差线性稳压器（LD0）的电磁抗扰度测试与建模问题。随着空间电磁环境的复杂性增加，确保信息系统和武器装备的电磁兼容性显得尤为重要。低压差线性稳压器因其易于应用和稳定的性能，常被用于微处理器、DSP和FPGA等数字和模拟电路的供电，其电磁抗扰性能直接关系到整个系统的稳定性。 作者们采用直接功率注入法，在1MHz至2GHz的传导电磁干扰条件下，对LD0进行了抗扰度测试。测试过程中使用的是一款通用的低压差线性稳压器芯片AM1117-1.8，其内部非线性特性被考虑在内。为了精确模拟和预测抗扰度，他们提出了一种创新的方法，即构建了一个由非线性系统（通过Taylor级数表示）和线性滤波器（用线性电路模型表示）组成的级联模型。传统集总参数方法被用来对测试系统中的分立器件进行建模，以便于对LD0的电磁干扰行为进行仿真。 研究结果显示，所提出的模型在1MHz至2GHz的频段内，能够有效地预测LD0的抗扰度，并且与实际测试数据呈现出良好的一致性。这表明该模型具有较高的实用价值，能够帮助工程师理解和优化LD0的设计，以提升其在电磁干扰环境下的性能和稳定性。 总结来说，这篇论文提供了低压差线性稳压器在电磁干扰环境中的抗扰度评估新方法，对于提高电子设备的电磁兼容性和系统稳定性具有重要意义。通过非线性与线性模型的结合，研究人员能够更准确地预测和控制LD0在宽频电磁环境下表现，为相关领域的设计者提供了有力的工具和技术支持。