IEEE Std 1149.1-2001：JTAG 测试访问端口与边界扫描架构

"JTAG（Joint Test Action Group）最新协议，即IEEE Std 1149.1-2001，是2001年由电气和电子工程师协会（IEEE）发布的一份标准，用于定义集成电路中辅助测试、维护和支持组装印刷电路板的电路。该协议规定了一种标准接口，通过这个接口可以传递指令和测试数据，并定义了一组测试功能，包括边界扫描寄存器，使得组件能够响应一套设计用来协助测试组装印刷电路板的最小指令集。此外，还定义了一种语言，允许精确描述此类可测性特性的组件特定方面。" IEEE Std 1149.1-2001是1990年版本的修订版，由IEEE计算机学会的测试技术标准委员会赞助，并于2001年6月14日得到IEEE-SA标准局的批准。这个标准详细规定了测试访问端口（Test Access Port, TAP）和边界扫描架构，旨在提高电子系统的可测试性。 边界扫描是一种重要的测试技术，它在每个集成电路（IC）芯片上包含一个额外的逻辑链，称为边界扫描寄存器。这个寄存器环绕着芯片输入/输出（I/O）引脚，允许在不干扰正常系统操作的情况下进行内部电路的测试。边界扫描寄存器可以捕获和存储I/O引脚的输入数据，在测试模式下，这些数据可以被替换或修改，以执行各种诊断和验证操作。 IEEE Std 1149.1协议提供的语言，通常称为JTAG语言，允许开发者详细描述芯片的特定测试需求，包括如何配置边界扫描寄存器，以及如何执行特定的测试序列。这种语言的灵活性使得工程师能够针对不同的硬件设计定制测试方案，确保产品在生产阶段和售后维护中的质量控制。 此外，JTAG协议不仅限于测试，还可以用于其他应用，如芯片编程、故障诊断、系统级调试和固件更新。随着嵌入式系统复杂性的增加，JTAG已经成为不可或缺的工具，它简化了对多芯片模块和系统级封装（System-on-Chip, SoC）的调试和维护。 IEEE Std 1149.1-2001是电子设计和制造领域的一个关键标准，它促进了硬件测试的标准化，提高了测试效率，降低了生产成本，并为复杂系统提供了强大的故障定位和修复能力。