HIOKI高速5ms LCR电桥3522-50/3532-50/3535新品测评

LRC电桥测试是一种精密的电子设备，用于测量电路中的电感（L）、容抗（C）和电阻（R）参数，它在电子设计和制造过程中扮演着关键角色。HIOKI公司的3522-LRC系列测试仪，如3522-50和3532-50，是针对高性能和高速度应用设计的最新款LCR测试工具。 3522-50和3532-50作为新一代LCR测试仪，具有显著提升的测试速度，达到了惊人的5ms，相比传统型号提升了四倍。这极大地提高了测试效率，对于生产线作业尤其有利。3522-50具备DC（直流）和宽频带测量，频率范围从1mHz到100kHz，能够模拟元器件在各种实际工作条件下的性能。而3532-50的测试频带更宽，为42Hz至5MHz，确保了测量结果的准确性和真实性。 3535型测试仪进一步扩展了测量范围，专注于100kHz到120MHz的宽频段，适合对高频元件如芯片互感和高速磁头进行测试。它的内置高速比较器和负载补偿功能，以及BIN测量能力，使其在多个领域，包括研发，都展现出广泛的应用性。用户还可以通过拆卸前置放大器，通过专用电缆进行灵活布局，减少测量误差。 这些测试仪不仅操作简便，价格实惠，还提供了出色的性价比。它们支持多种测量频率设置，允许用户根据需要调整，以实现更精确的运行特性评估。3522-50和3532-50的基本精度分别达到±0.08%和±0.5%对于Z值，±0.3°对于角度，显示出高精度和高分辨率的特点。最快的5ms采样时间进一步节省了生产线的时间。 除了基本的LCR参数测量，如阻抗（|Z|）、复数阻抗（|Y|）、功率因数（θ）、等效串联电阻（Rp/DCR*）、等效串联电容（Rs/ESR,DCR*）、电导（G）、电感（X）、电感（B）、电容（Lp/Ls）、电容（Cp(Cs)）、损耗因子（D/tanδ）和品质因数（Q），3522-50型号还特别强调了DC电阻测量的能力。 3522-LRC电桥测试仪系列是电子工程师的理想工具，提供了高性能、高精度和高效能的测量解决方案，无论是实验室测试还是生产线质量控制，都能满足各种复杂和高速的需求。HIOKI公司的官方网站提供了更多关于产品详细信息、环保政策和技术支持等内容，对于潜在用户来说是一个全面了解和获取帮助的好去处。