"这篇文档详细介绍了如何使用Calibre xRC工具进行RFCMOS电路的寄生参数提取和后仿真流程,特别关注了Calibre xRC的XCELL方式对包含RF器件电路仿真结果的影响。文中以一个采用RFCMOS工艺设计的低噪声放大器(LNA)为例,展示了从电路图到版图,再到寄生参数提取的全过程,并提到了Calibre与Virtuoso的集成使用方法。"
文章详细讲解了Calibre xRC作为MentorGraphics公司的寄生参数提取工具,如何在RFCMOS工艺中应用。RFCMOS技术结合了RF(射频)和CMOS(互补金属氧化物半导体)的优点,被广泛应用于高性能的无线通信系统中。LNA作为这种技术的一个关键组件,其性能受到寄生参数的影响,因此准确的寄生参数提取至关重要。
在使用Calibre xRC时,首先需要在Virtuoso环境中设置Calibre的快捷方式,以便在Virtuoso中直接启动寄生参数提取过程。用户可以通过修改.cdsinit文件来实现这一功能,然后通过RunPEX启动CalibrexRC的图形用户界面(GUI)。
在GUI中,用户可以设置ExtractionType,包括晶体管级和门级提取,以及选择提取的寄生元素类型,如电阻、电容、耦合电容和电感。提取精度的选择取决于电路的复杂度和需求。此外,Format选项允许用户选择不同的仿真网表格式,如SPECTRE、ELDO或HSPICE,或者使用Calibre提供的CALIBREVIEW格式。
在进行寄生参数提取时,Calibre xRC通常会先执行布局与电路图验证(LVS),接着提取寄生参数,最后生成一个新的电路图,包含了原始器件和提取出的寄生元件。提取完成后,用户可以在Virtuoso的ADE(Advanced Device Editor)中直接进行后仿真,以分析寄生参数对电路性能的影响。
特别地,文章还提及了Calibre xRC的XCELL方式对包含RF器件电路仿真的影响。由于RF电路通常涉及高频操作,寄生参数如电感在这些情况下可能会显著影响性能。XCELL方式可能提供更精确的寄生模型,从而提高后仿真的准确性。
该文档为读者提供了一套完整的使用Calibre xRC进行RFCMOS电路寄生参数提取和后仿真的实践指南,对于进行RFIC设计的工程师来说具有很高的参考价值。