SI2369DS-T1-GE3-VB P沟道MOSFET技术解析与应用

1 下载量 138 浏览量 更新于2024-08-03 收藏 253KB PDF 举报
"SI2369DS-T1-GE3-VB-MOSFET是一款P沟道的MOSFET,适用于移动计算设备中的负载开关、笔记本适配器开关和DC/DC转换器。该器件采用TrenchFET技术,具有低RDS(ON)和快速开关性能。在25°C时,其典型RDS(ON)分别为47mΩ(VGS=-10V)和56mΩ(VGS=-4.5V),并且100%经过Rg测试。封装形式为SOT23,绝对最大额定值包括-30V的源漏电压(VDS)、±20V的栅源电压(VGS)以及-5.6A的连续漏电流(ID)。" SI2369DS-T1-GE3是ON Semiconductor公司生产的一款高性能P沟道金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET),主要应用于移动计算设备,如笔记本电脑和移动电源解决方案。这款MOSFET采用了先进的TrenchFET技术,这是一种利用沟槽结构来降低导通电阻(RDS(ON))的设计,使得在低电压下也能保持较高的效率,减少功率损耗。 该器件的特性包括: 1. RDS(ON):这是衡量MOSFET导通电阻的关键参数,低的RDS(ON)意味着在导通状态下的功率损耗更小。在VGS=-10V时,RDS(ON)典型值为47mΩ,而在VGS=-4.5V时,RDS(ON)为56mΩ。 2. Qg(总栅极电荷):11.4nC的典型值表明了开关过程中所需的电荷量,较低的Qg有助于提高开关速度,减少开关损耗。 3. 封装:SOT23封装是一种小型表贴器件,适合空间有限的应用场景。 绝对最大额定值确保了MOSFET在极端条件下的安全操作: 1. VDS:源漏电压的最大值为-30V,超过这个值可能会导致器件损坏。 2. VGS:栅源电压的范围限制在±20V,超出这个范围可能会影响器件性能或寿命。 3. ID:在不同温度下,连续漏电流有不同的最大值,例如在25°C时为-5.6A,在70°C时则降至-4.3A。 此外,MOSFET的热特性也非常重要: 1. 最大功率耗散(PD):在25°C时为2.5W,70°C时降至1.6W,这限制了MOSFET可以处理的连续功率。 2. 结温范围(TJ,Tstg):从-55°C到150°C,确保了器件在宽温范围内的可靠工作。 SI2369DS-T1-GE3是专为需要高效能和紧凑尺寸的电源管理应用而设计的,其低RDS(ON)和小封装尺寸使其在移动计算设备的电源路径切换和控制中表现出色。