提升电子整机可靠性：元器件漏电流Io与使用控制策略

"本文主要探讨了电子元器件的漏电流Io在可靠性系统工程中的重要性。漏电流Io是衡量电容器绝缘性能的关键指标，尤其是在电解电容器中，其大小受电压、容量和特定系数K的影响。K值通常在0.01至0.03之间，而对于低漏电性的电解电容器，K值可低至0.002。Io的测量结果会随着温度的变化而变化，例如，在+85℃下，Io一般等于10倍的K乘以容量C和电压U；而在+125℃时，Io则是12.5倍的该值。 电子元器件的可靠性是电子整机性能的基础，据统计，元器件故障占整机失效的50%以上，因此在设计和使用阶段对其可靠性控制至关重要。整机的可靠性并非仅由设计决定，而是设计、选择、控制和使用等多个环节共同作用的结果。固有可靠性强调元器件本身的性能稳定性，而使用可靠性则考虑元器件在实际应用中的表现，它受到元器件选择、筛选技术和使用条件等多种因素的影响。 文章详细地讨论了现代质量观念，其中质量被定义为产品或服务满足用户需求的能力的体现，以及符合质量管理和质量保证国际标准的要求。随后，文章分别探讨了元器件的选择与控制策略，如如何通过筛选技术确保选到高可靠性的部件，以及微电子器件、阻容元件和其他元件在可靠性工程中的应用。 总结来说，本文深入剖析了漏电流Io作为电子元器件可靠性评估的重要参数，并强调了在整个电子系统设计过程中，从源头选择高质量元器件，通过精确的筛选和合理的使用方法，以提高整机的可靠性，是提升产品质量和用户满意度的关键步骤。"