基于Sagnac干涉仪的保偏光纤拍长高精度测试技术

本文档主要探讨了2010年发表在《北京航空航天大学学报》的一篇关于基于Sagnac干涉仪的保偏光纤拍长测试技术的论文。作者徐春娇、杨远洪、段弗倩和杨巍来自北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院，他们研究了一种特殊的混合光纤Sagnac干涉仪，该干涉仪由单模光纤耦合器和保偏光纤构成。 论文首先深入分析了这种干涉仪的反射谱和透射谱，揭示了其光谱调制特性。通过透射光谱中的极值点特征，研究者提出了一个简单而精确的保偏光纤拍长测试方法。这种方法的关键在于利用干涉仪对保偏光纤长度变化引起的光谱变化进行检测，尤其是利用光谱的周期性模式来确定光纤的拍长（两个相干光波的频率差导致的相位差）。 精度分析部分，作者详细讨论了如何优化测试参数以提高测量的准确性，这包括选择合适的光源频率和探测器灵敏度等。他们还评估了技术的测量性能，表明该方法具有操作简便、测量可靠的优势，能够实现优于0.01毫米的拍长测量精度，这对于精密光纤应用，如光纤通信和光学测量等领域具有重要意义。 论文的关键词包括光纤光学、干涉仪和光纤传感器，反映了研究的核心内容。此外，按照国际标准分类，文章被归类为TN253，文献标识码为A，文章编号为1001-5965(2010)06-0753-04，这意味着它是在2010年6月第36卷第6期的期刊上发表的。 这篇论文为保偏光纤的精密测量提供了一种创新且实用的技术手段，对于推动光纤技术的发展以及相关领域的科研和工程实践具有重要的参考价值。