磁流变抛光技术在碳化硅基底改性硅表面的应用
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更新于2024-08-28
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"该文主要探讨了在碳化硅基底上改性硅表面的精抛光技术,采用磁流变抛光法以提高抛光效率和精度。研究中,针对磁流变抛光液的实际应用需求,设计并配置了适合改性硅表面的抛光液,测试其流变特性和分散稳定性,结果显示抛光液性能优异。在130mm口径(有效口径120mm)的同轴非球面碳化硅工件上进行抛光实验,经过约3小时的两个抛光周期,面形误差从0.051λ快速降低到0.012λ,粗糙度达到0.618nm。这表明所配制的磁流变抛光液能有效满足碳化硅基底改性硅表面的抛光要求,验证了磁流变抛光技术在硅改性后的精抛光阶段的独特优势。"
本文是关于材料表面改性技术的一篇研究,具体涉及碳化硅基底上的硅表面处理。传统的抛光方法在处理这种复合材料表面时可能存在局限,因此,研究人员引入了磁流变抛光(MRF)技术来改善精抛光效果。磁流变抛光是一种利用磁性颗粒在磁场作用下改变流体粘度的原理进行精密抛光的方法,它能在保持高抛光效率的同时,有效地去除面形误差。
文章中,研究团队根据实际应用需求,制定了磁流变液的性能指标,并成功配制了一种适合改性硅表面的抛光液。他们对抛光液的流变特性(如剪切应力、粘度随磁场变化等)和分散稳定性进行了测试,结果显示所配制的抛光液具备良好的抛光性能和稳定性。
实验部分,研究者选取了一个130mm口径(有效口径120mm)的同轴非球面碳化硅工件作为样品,对其进行抛光处理。经过大约3小时的两个抛光周期,工件的面形误差均方根(RMS)显著下降,从初始的0.051λ(λ=632.8nm)减少至0.012λ,表明面形精度得到了显著提升;同时,表面粗糙度达到了极低的0.618nm,证明了磁流变抛光液在去除微小缺陷方面的卓越能力。
通过这项工作,作者证实了磁流变抛光技术对于碳化硅基底改性硅表面抛光的有效性和独特优势,特别是在精抛光阶段。这一成果对于提升光学元件和精密器件的制造质量具有重要意义,为未来在类似材料表面的精密加工提供了新的技术路径。
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