高速通信SoC测试：BaseBand测试技术解析

本文主要探讨了电子测量领域中针对通信类SoC芯片的BaseBand测试方案，特别是基于ADVANTEST（爱德万测试）SoC测试系统，包括高速高精度的任意波形发生器（WVFG）、波形数字转换器（WVFD）以及超高速任意波形发生器（GSAWG）的应用。文章着重强调了随着数字通信的高速发展，SoC芯片内的AD/DA转换器需要实现高速化，以应对如W-CDMA（5MHz带宽）和OFDM（20MHz带宽）等通信标准的要求。 在3GPP的W-CDMA标准中，信号传输与接收涉及5MHz带宽的处理，而IEEE802.11无线局域网则利用20MHz带宽的OFDM信号。为了有效测试这类宽频带SoC芯片，测试系统需要具备高速高精度的波形生成能力。直接转换（Direct Conversion）方法在通信技术中逐渐受到关注，但在此之前，几百MHz的中频信号到BaseBand的转换技术同样重要。为此，ADVANTEST开发了WVFG和WVFD，以满足几百MHz载波调制信号的测试需求，同时GSAWG则用于直接生成高速信号，以测试one-chip化的通信类芯片。 文章指出，无线通信芯片测试面临的主要挑战是降低验证和测试时间（TAT），提高测试效率，以及在复杂基带信号处理中确保高精度和一致性。WVFG、WVFD和GSAWG这些工具的创新技术，能够生成逼真的宽带信号，模拟真实环境，从而更有效地检测SoC芯片的性能，包括其信号处理、调制解调以及干扰抑制等方面的能力。 此外，文章还可能讨论了如何利用这些测试设备和技术进行具体的测试案例，比如如何设置波形参数，如何模拟不同通信协议下的信号，以及如何评估芯片在各种条件下的性能表现。通过这些详尽的测试，工程师可以找出设计中的潜在问题，优化芯片性能，并确保其在实际应用中的可靠性。 本文深入浅出地介绍了通信类SoC芯片BaseBand测试的关键技术和面临的挑战，通过爱德万测试提供的先进测试解决方案，为业界提供了一套高效且精准的测试策略，有助于推动无线通信技术的持续发展。