STM32调试：Keil MDK 3.5 + Jlink V8 SRAM调试步骤

"该资源主要介绍了如何在Keil MDK 3.5环境下，结合Jlink V8调试器，对STM32F103RBT6芯片进行SRAM调试，以避免频繁擦写FLASH并简化新手的学习过程。" 本文将详细阐述如何使用Keil MDK 3.5集成开发环境，配合Jlink V8仿真器，进行STM32微控制器的SRAM调试。这种方法允许开发者在不频繁擦写FLASH的情况下进行程序调试，保护MCU的寿命，并以GPIO控制LED为例说明具体操作步骤。 首先，从Keil安装目录复制`RAM.ini`文件到项目目录，并启动Keil MDK 3.5。接着，创建一个新的目标（Target），命名为“SRAM”。选择这个新目标后，进入其属性设置。 在“Target”选项中，我们需要调整IROM1和IRAM1的起始地址和大小。IROM1的Start值设为0x20000000，Size设为0x4000，表示16KB的FLASH空间；IRAM1的Start值设为0x20004000，Size设为0x1000，即4KB的SRAM用于运行代码。 在“Output”选项卡中，勾选“Create HEX File”，以便生成HEX文件供后续使用。而在“Debug”选项中，选择Cortex-M3兼容的J-Link仿真器，并指定初始化文件为刚才复制的`RAM.ini`。同时，取消“Load Application at Startup”的复选框，防止自动加载到FLASH。 进一步设置仿真器的参数，确保“Interface”选择USB连接，并在“Flash Download”配置中，选择不擦除（Donot Erase）选项。在“RAM for Algorithm”部分，设定Start地址为0x20004000，Size为0x1000，对应我们分配的4KB SRAM区域。对于STM32F10x Medium-density Flash，设置Start地址为0x20000000。 至此，调试环境配置完成。开发者可以编写GPIO控制LED的程序，编译后生成的HEX文件将被加载到SRAM中执行，而不会影响到FLASH中的固件。通过这种方式，不仅避免了反复擦写对FLASH的影响，还使得调试过程更为高效和便捷，特别适合STM32初学者进行实践操作。