LTE终端射频性能测试：CMW500测量注意事项

"本文档详细介绍了使用Rohde & Schwarz CMW500测试设备对LTE终端进行射频性能测量的方法，遵循3GPP TS36.521-1规范。内容涵盖发射机和接收机测试，以及PUCCH（物理上行链路控制信道）和PUSCH（物理上行共享信道）的相关测量注意事项。针对PUCCH，特别强调了在特定CMW500版本和20MHz带宽设置下，频谱测量项目的关闭要求，以及功率调整对测量的影响。同时，对于ON/OFF时间模板测量，同样提出了频谱测量项目需关闭以防止子帧时序错误。此外，文档还详细阐述了不同发射机测试项目，包括最大输出功率、功率控制、频率误差、误差矢量幅度等的测量步骤和要求。" 在PUCCH相关测量注意事项中，主要涉及以下几点： 1. 当CMW500 LTE版本为V2.0.20或更早，且带宽为20 MHz时，应关闭ACLR（邻道泄漏比）或SEM（频谱发射 mask）测量，因为调频会导致PUCCH测量错误，可能造成掉话。 2. PUCCH的RF参考功率的自动模式受到PUSCH信道功率控制的影响，因此需要手动设置以符合仪表测量范围。 3. 在Measurement Control中，建议将Channel Type设为Auto模式。 4. 改变PUCCH功率至-36.8 dBm时，应通过中间功率点（如0 dBm）过渡，以避免因预期功率变化导致的仪表动态范围外的功率问题，从而防止掉话。 5. 切换信道类型从PUSCH到PUCCH时，推荐在0 dBm左右进行，以避免同步错误。 在ON/OFF时间模板测量注意事项中： 1. 同样的，V2.0.20或更早版本的CMW500在20 MHz带宽下应关闭频谱测量，以防止PUSCH测量中的子帧时序错误。 2. 对于关断功率测量，建议将Reference Level设置为终端打开功率峰值的2 dB以上，确保测量准确，避免实际关断功率不在CMW500的动态范围内而导致错误结果。 整个文档详尽地描述了使用CMW500进行LTE终端射频性能测试的流程和技巧，对于理解和优化通信设备的性能测试具有重要指导意义。