RF器件测量：饱和功率与增益的脉冲测试法

"测量RF晶体管和RF集成电路的饱和功率及增益的方法，尤其在高功率设备的性能评估中，脉冲测试技术常被用于测量饱和功率，以克服连续波（CW）技术的局限性。在实际操作中，使用双通道峰值RF功率计和适当的测试工作台配置，但这种方法的准确性受到感应器动态范围限制和DUT增益影响。测试台通常包括脉冲信号发生器、信号分析器、可变衰减器等组件，通过同步功率扫描和时基扫描来实现精确测量。" 在高功率的射频（RF）应用中，对晶体管和集成电路的性能评估至关重要，其中饱和功率是一个关键参数。由于连续波测试难以准确评估，尤其是在大功率条件下，工程师通常选择在脉冲模式下进行测量。脉冲测试允许在不导致设备过热或损坏的情况下，模拟设备在高功率状态下的行为。 饱和功率是指RF放大器在其线性工作区之外，输出功率不再随输入功率线性增加，而是趋于稳定的最高输出功率。在多载波蜂窝基站功率放大器中，预矫正系统常依赖于饱和功率的精确测量来实现线性化。对于前置补偿功率放大器，饱和功率通常被视为其最大可能的输出功率。 测量饱和功率时，通常采用脉冲输入的信号发生器配合峰值功率计，通过两个感应器来获取输入和输出功率。然而，这种方法的精度受到感应器动态范围的限制，特别是在高增益设备如多级RF集成电路中。如果感应器在测量期间无法保持在同一动态范围内，测量结果会依赖于工作台的校准功率级别，导致误差。 为了解决这些问题，一个理想的测试工作台应包括一个能够与信号分析器同步的脉冲信号发生器，如SMIQRF，以及能够调整输入功率的可变衰减器。通过这种方式，可以在不干扰扫描设置的情况下微调DUT的输入功率。同时，利用信号分析器的触发功能和滤波器，可以进一步优化测量的精度和稳定性。 测试过程中，信号发生器的“标记”输出被用来触发信号分析器，确保功率扫描与时间扫描同步。通过这种方式，可以将SMIQRF信号发生器转变为一个简易的纯量网络分析仪，提供更全面的测量能力。这种测试方法虽然复杂，但能提供更准确的饱和功率和增益数据，对于优化RF设备性能和设计至关重要。