Flask-admin实战：构建数字IC系统可测性设计图形化管理界面

本资源是一本关于数字IC系统设计的专业书籍，由西安电子科技大学出版社出版，编者王彬和任艳颖。章节详细探讨了可测性设计在数字集成电路设计中的关键作用，这是第六章的核心内容。作者首先介绍了可测性设计的概览，包括基于扫描路径、JTAG和BIST（ Built-in Self-Test）的可测性设计方法。扫描路径是用于测试电路内部结构的一种技术，JTAG是一种广泛使用的并行接口，用于调试和测试，而BIST则允许芯片自我诊断，提高测试效率。 在本章中，作者还讨论了自动测试向量生成（Automatic Test Pattern Generation，ATPG）的重要性，这是一种自动化工具，用于生成针对特定电路的测试数据，确保其正确性和可靠性。这些技术对于现代数字IC的设计至关重要，因为随着集成电路的复杂度增加，如片上系统的崛起，设计的复杂性也随之提升，对设计的可测性和验证的需求变得更为迫切。 书中提到，IC设计正朝着系统级集成（System-on-Chip，SoC）和深亚微米技术发展，这带来了新的挑战，如连线延时的精确估算、串扰分析以及软硬件协同设计等问题。这些问题的解决直接影响到设计的质量、性能和成本。此外，开发片上系统需要采用基于IP（知识产权）的开发模式，以解决设计复用、IP验证、集成协调以及系统级验证等难题。 这一章节深入讲解了如何通过有效的可测性设计策略来应对数字IC设计中的复杂性和风险，是理解现代集成电路设计不可或缺的一部分。对于从事该领域研究或实践的工程师来说，这本书提供了实用的指导和理论支持。