"DFT设计要点及DFT Compiler添加扫描链过程详解"

DFT设计的重点内容包括test configure、scan configure、dft configure等，并且在DFT Compiler中添加了扫描链过程，具体包括test configure、scan configure、dft configure、specify、preview和synthize等步骤。test configure主要用来配置测试相关的时钟，输入延迟，双向延迟和测试选通时间，而scan configure则配置扫描链的一些属性，包括添加锁定、链计数、最大长度、精确长度和域计数等。这些设置都在tcl中进行设置，以满足DFT设计的要求。 DFT设计的要点包括对测试相关时钟、延迟和选通时间的配置，以及对扫描链属性的设置。这些要点在DFT Compiler中得到了实现，并通过test configure、scan configure、dft configure、specify、preview和synthize等步骤来完成，以确保DFT设计的准确性和有效性。 在test configure中，通过设置test_default_period、test_default_delay、test_default_bidir_delay和test_default_strob等参数，对测试相关的时钟、延迟和选通时间进行配置，以确保测试的准确性和可靠性。而在scan configure中，则通过set_scan_configuration命令和参数来配置扫描链的属性，包括添加锁定、链计数、最大长度、精确长度和域计数等，以保证扫描链的有效性和稳定性。 总的来说，DFT设计的重点内容在于对测试相关时钟、延迟和选通时间的配置，以及对扫描链的属性设置，而这些内容都在DFT Compiler中得到了实现，并通过一系列步骤来完成，以确保DFT设计的成功实施。通过对test configure、scan configure、dft configure、specify、preview和synthize等步骤的详细分析和实施，可以更好地理解和掌握DFT设计的要点，从而提高设计的效率和质量。