千兆以太网同步检测电路设计：1.25Gbs速率与高效仿真验证

本文主要探讨了2002年发表在东南大学学报(自然科学版)上的《千兆以太网同步检测集成电路设计》。作者赵文虎、王志功、吴微和李本靖来自东南大学射频与光电集成电路研究所，他们提出了一种创新的电路结构，旨在实现1.25 Gbs速率的千兆以太网数据的高效处理。设计的核心是采用了两级分接电路结构，其中嵌入了同步码字检测电路，以确保数据的正确传输和同步。 文章的重点在于解决超高速集成电路中由于RC网络效应对互连线性能的影响。通过基于TSMC 0.35 μm CMOS工艺的电路建模，作者深入分析了这些效应，并通过Smartspice工具进行了广泛的仿真，测试了电路在不同条件下的稳定性，如温度范围（0~70℃）和电源电压（3.15~3.45 V）的变化，以及输入信号的多样性。这种仿真与版图参数提取后的结果相结合，证明了该设计在缩小规模、简化电路结构和优化仿真流程方面具有显著的优势。 关键词包括千兆以太网、码组检测和互连线，显示出研究者对于提升数据通信系统的可靠性和效率的重视。文章的中图分类号为TN722.7，文献标识码为A，文章编号为1001-0505(2002)02-0161-05，表明这是一项重要的科研成果，对于理解和优化高速数据通信系统的设计具有实际意义。 这篇文章不仅介绍了设计思路和技术细节，还展示了如何通过精确的电路模拟和分析来提升千兆以太网同步检测集成电路的性能，这对于从事集成电路设计或相关领域的研究人员来说是一篇有价值的技术参考文献。