统计模式识别:理论与技术概览

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"Statistical Pattern Recognition-2nd edition" 是一本专注于统计模式识别理论与技术的书籍,由Andrew R. Webb撰写。这本书汇集了来自工程、统计、计算机科学和社会科学等多个领域的广泛文献中的内容,主要关注分类和歧视问题。书中详细介绍了当前许多流行的模式处理技术,并涵盖了许多非参数方法在统计领域和其他领域的最新进展。通过实际应用案例来展示这些技术,同时也提供了进一步深入研究应用、比较研究和理论发展的相关文献引用。 本书的第一版由Butterworth Heinemann出版,第二版则由John Wiley & Sons Ltd于2002年发布。出版社保留所有权利,未经书面许可,任何部分不得复制或传播。读者可以通过电话、电子邮件或访问出版社网站获取更多信息或购买权限。 统计模式识别是机器学习和人工智能领域的一个关键组成部分,它涉及到从数据中识别和学习模式,以便进行有效的分类和预测。在第二版中,Webb博士深入探讨了非参数方法,这是一种不需要对数据分布做出严格假设的统计方法,这使得该书对于处理复杂和非标准数据集特别有用。书中提到的实际应用研究可能包括图像识别、语音识别、生物信息学、金融数据分析等各个领域。 通过阅读本书,读者可以了解到如何运用统计学工具来解决实际问题,包括特征选择、模型选择、训练与验证、过拟合和欠拟合的处理策略等。此外,书中还可能涵盖了贝叶斯方法、决策树、支持向量机、神经网络等经典和现代的模式识别技术。Webb博士通过提供实例和指明相关文献,鼓励读者深入探索这个领域的最新发展,这不仅有助于学术研究,也对实际工作中的问题解决具有指导意义。 "Statistical Pattern Recognition-2nd edition" 是一个全面的指南,适合于那些希望深入了解和应用统计模式识别技术的学生、研究人员和从业人员。通过学习本书,读者可以提升对复杂数据的理解能力,掌握处理分类问题的先进方法,从而在各自的领域中取得更好的成果。