亚毫微秒荧光寿命测量：解卷积技术的应用

"该文介绍了使用解卷积技术测量亚毫微秒荧光寿命的研究，主要涉及光电倍增管和取样示波器在测量Rh6G与不同浓度KI混合水溶液荧光衰减曲线的应用。通过相平面法与迭代卷积法结合，实现了对亚毫微秒级别荧光寿命的精确测定，最小时间分辨率达到了130ps，相当于仪器响应函数半宽度的3%。" 文章详细阐述了荧光寿命测量在分子动力学研究中的重要性，并指出传统检测方法由于响应时间限制，难以测量毫微秒及亚毫微秒级别的荧光寿命。作者提出了解决这一问题的方案，即使用响应时间为毫微秒级别的光电倍增管和取样示波器来获取衰变曲线，然后通过相平面法和迭代卷积法对获取的数据进行处理，以揭示样品的真实荧光寿命。 荧光衰变通常遵循一级动力学过程，可以用指数函数表示，其中τ为荧光寿命。当仪器响应时间与荧光寿命相近时，直接测量的衰变曲线会受到仪器响应函数的影响，需要通过解卷积技术来恢复真实衰变过程。 文中提到的解卷积方法结合了相平面法（一种利用复分析技术处理数据的方法）和迭代卷积法（通过多次卷积操作逐渐逼近真实信号的过程），这种方法提高了结果的精确度，简化了处理流程，且比单一解卷积方法更为有效。 文章最后，作者提及了实验的时间分辨率和精度，以及该研究对使用常规检测设备进行亚毫微秒荧光寿命测量的贡献。这种方法为那些无法负担昂贵高速设备的实验室提供了一种实用且经济的解决方案，促进了相关领域的科学研究。