数字散斑干涉的光强不均校正法:提高航空复合材料检测效果
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更新于2024-08-28
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在"减模式下数字散斑干涉光强不均匀性对检测的影响和校正方法"这篇文章中,作者探讨了数字散斑干涉技术在实际应用中的一个重要挑战,即光照不均匀性如何影响干涉条纹的精确度和可读性。散斑干涉是一种利用光的衍射效应来测量物体表面形貌或微小形变的技术,其核心是通过对比两条光路的光强差异来获取干涉条纹。
照明光或者被测物体表面反射光的非均匀分布,会导致条纹图像出现不规则的明暗变化,严重时可能导致某些区域的干涉条纹完全消失,从而影响测量结果的准确性和可靠性。为了解决这个问题,作者基于剪切型散斑干涉的原理,提出了一种针对减模式下的光强不均匀校正方法。这种方法的关键在于假定散斑相位差的主值在(-π, π]区间内均匀分布,这为建立一个全新的强度分布函数提供了理论基础。
校正方法的具体步骤是通过构建一个能区分不同区域背景光强的新函数,然后逐个区域地消除这些背景光强,消除光强的干扰项。这样做可以使得干涉条纹图的显示强度趋于均匀,从而改善图像质量,使得隐藏在光强较弱区域的条纹得以清晰显示。这种方法的有效性在实验中得到了验证,当应用于航空复合材料的剪切散板干涉测量中时,原本由于光强不均而难以观察的条纹被成功恢复。
文章的关键词包括数字散斑干涉术、图像处理、图像校正以及减模式,这些都是研究的核心概念和技术手段。通过这种方法,散斑干涉测量的精度得到了提升,这对于诸如材料缺陷检测、表面形貌分析等领域的应用具有重要的实际意义。这篇论文提供了一种实用且有效的解决数字散斑干涉中光强不均匀问题的方法,对于提高干涉测量技术的稳定性和精度具有重要价值。
2021-02-11 上传
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