提升电子整机可靠性：元器件失效分析与选择控制

"开展失效分析所具备的基本条件主要包括硬件设施和专业分析人员。硬件设施包括观测仪器（如立体显微镜、金相显微镜）、电性能测试仪器（如半导体特性图示仪、IC电参数测试仪、RCL测试仪）、环境试验设备（如高低温箱、振动冲击设备）、其他相关设备（如核质谱检漏仪、PIND多余物检测设备）、化学腐蚀剂及解剖工具等。此外，必须拥有一支具备良好专业技术和丰富实际工作经验的分析团队。" 本文讨论的主题是电子元器件的可靠性系统工程，特别是失效分析的重要性和开展条件。失效分析在电子行业中至关重要，因为根据统计数据，大约50%的电子整机失效是由于元器件使用不当引起的。因此，从元器件的选择、控制到使用，每个环节都对整机的可靠性有着直接的影响。 电子元器件的可靠性分为固有可靠性和使用可靠性两方面。固有可靠性是指元器件自身的内在稳定性，它是可靠性基础，而使用可靠性则涉及元器件在实际应用中的表现，受到元器件选择、控制和使用方式的直接影响。为了提高整机系统的可靠性，必须从研发阶段就开始对元器件进行严格的选择与应用控制。 文章还提及了现代质量观念，质量不仅仅是产品或服务满足需求的能力，也是质量管理与质量保证的标准体现。元器件的选择与控制是确保质量的关键步骤，而元器件筛选技术、微电子器件、阻容元件和其他元件的特性和可靠性评估都是提高整体系统性能的重要环节。 在进行失效分析时，需要运用各种专业的测试和试验设备，比如通过立体显微镜和金相显微镜观察元器件微观结构，利用半导体特性图示仪测试电气性能，通过高低温箱和振动冲击设备模拟实际工作环境，以及使用核质谱检漏仪等设备检测元器件的密封性。同时，经验丰富的分析人员能够准确解读测试结果，找出问题所在，提出解决方案，从而提升元器件和整机的可靠性。 开展失效分析需要完善的硬件设施和专业知识，目的是通过对元器件的深入理解和严格控制，降低失效风险，提高电子产品的整体可靠性。