破解嵌入式固件：JTAG/IAP/U-Boot方法解析

本文主要探讨了汽车电子设备中的固件提取技术，特别是在固件载体方面的理解与实践。固件，即嵌入式系统中的程序和数据，通常存储在非易失性存储器（NVM）中，如ROM和Flash Memory，其中EEPROM是常见的ROM类型，常用于MCU内部。eMMC、SD卡、CF卡和HDD这类外部存储设备，它们由主控芯片管理和上位机（主机）通过通用接口进行通信，常规情况下可以通过读卡器或烧录座直接读取。 然而，对于由SoC（系统级芯片）直接管理的存储芯片，如那些没有外部通用接口的，就需要特殊的方法来提取固件。这可能涉及到利用JTAG（Joint Test Action Group）接口进行硬件调试，通过IAP（In-Application Programming）功能在运行时更新固件，或者利用U-Boot这样的启动加载器来访问存储区。即便主控发生故障，只要能访问内存地址，理论上仍有可能从存储区获取固件。 EEPROM、NOR Flash和NAND Flash各有优缺点。EEPROM因其高耐用性和低功耗，在车载应用中受到青睐，但性能相对较低。NOR Flash擦写次数较少，但速度较慢；而NAND Flash擦写次数多且速度较快，但寿命和性能取决于具体的实现方式。 在嵌入式安全研究中，固件提取是一个关键环节，因为它直接影响后续的安全分析和漏洞挖掘。由于固件承载着设备的核心功能和配置，对其进行有效提取和分析，对于理解和保护嵌入式系统的安全性至关重要。作者计划分享多年积累的固件提取技巧和经验，以帮助研究者在这个领域深入探索。