VLSI测试方法学：边界扫描技术解析

"边界扫描法是一种用于测试VLSI(超大规模集成电路)的高级技术，它扩展了扫描路径法的应用范围，使得测试能够涵盖整个电路板或系统级别。这种方法的关键在于其边界扫描寄存器单元，这些单元形成一个寄存器链，连接到每个元器件的引脚，使得指令、测试数据和结果可以通过串行通信方式进出。这种技术提高了测试效率，简化了复杂系统的测试过程。 在VLSI测试方法学和可测性设计中，边界扫描法是核心内容之一。书中详细阐述了电路测试和分析的基础理论，包括数字电路的描述和模拟方法，以及针对组合电路和时序电路的测试生成策略。此外，还讨论了专用可测性设计，如扫描设计和边界扫描理论，这些设计能够使测试更容易进行。 IDDQ测试（电流检测不加激励测试）是另一个关键主题，这是一种评估电路静态功耗的方法。随机和伪随机测试原理也被介绍，这些方法利用随机或近似随机的输入序列来检测可能的故障模式。书中还深入探讨了与M序列相关的测试生成技术，这些序列在生成测试模式时具有重要的应用。 内建自测试（BIST）原理的讲解揭示了如何集成测试逻辑到电路内部，以便自我诊断和验证。数据压缩结构和压缩关系的讨论则关注如何减少测试数据的量，提高测试效率。对于特定类型的电路，如Memory和System-on-Chip (SoC)，书中也提供了专门的可测性设计方法。 这本书不仅适合于集成电路设计、制造、测试和应用领域的专业人士作为参考，也是高等院校高年级学生和研究生学习VLSI测试和设计的理想教材。通过学习，读者将能够理解和应用各种测试方法和技术，促进电路设计、制造、测试和应用之间的协同工作。" 这本书的详细内容涵盖了VLSI测试的多个方面，从基础理论到高级技术，为读者提供了全面的知识框架。无论是在学术研究还是实际工程中，都能找到实用的价值。对于想要深入理解VLSI测试方法学和可测性设计的人来说，这是一份宝贵的资源。