优化测试点策略：软件定义边界与零信任原则

在软件定义边界和零信任的背景下，测试点策略在电路板设计中扮演着关键角色。首先，设计师需要考虑测试流程和所用的固定装置类型，如正向或反向测试，以决定测试点的位置。对于裸板测试，元器件底部的测试点较为常见，而在组装后的电路板测试中，这可能会带来额外的挑战。为了降低成本，推荐将所有测试点集中在一面，必要时通过过孔连接，因为双面测试固定装置的成本较高。 复杂的测试点设计会增加测试设备的配置成本，因此建议开发一套通用且经济的测试方法。在设计过程中，过孔掩埋是一个关键考虑因素，尤其是防止阻焊层阻碍测试探针的接触。虽然液态阻焊层可能导致接触问题，可剥离阻焊层的解决方案虽可解决但成本高昂。因此，与制造商密切合作，确保测试点的设计满足严格的间距要求，如测试点间的安全间距和与元器件的距离，这些间距可能比常规布局更严格。 此外，制造和装配过程中的特定测试点限制也需要理解和处理。这可能涉及对特殊元件或设计的适应性测试，以及如何在不违反版权法律的前提下获取Altium Designer 14的专业支持，比如遵循版权条款，仅限个人使用，并禁止未经许可的复制或传播。未经授权的复制可能会导致法律后果，包括罚款和监禁。 测试点策略在软件定义边界和零信任环境中，既要考虑设计的灵活性和成本效益，也要注重与制造商的沟通，确保测试可行性和合规性，以实现高效和经济的电路板测试。同时，了解并遵守版权法规，确保在使用专业软件如Altium Designer 14时的合法操作。