数字全息层析法:光纤三维折射率的精确定量测量
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更新于2024-08-26
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本文主要探讨了"用数字全息层析成像技术测量光纤的三维折射率"这一主题,它属于研究论文范畴,发表在中国激光第40卷第10期。作者苏玲珑、马利红、王辉和李勇来自浙江师范大学信息光学研究所,他们提出了一种创新的方法来定量测量光纤内部折射率的三维分布。该研究基于数字全息显微断层成像技术,构建了一个专门的实验系统。
在实验系统中,他们采用预放大透射式数字全息显微系统,通过增加样品转动装置,可以记录光纤在180度视角内的多个角度显微全息图。然后,通过数值计算技术,将这些角度的全息图转化为每个角度下光纤折射率的积分投影。利用滤波反投影算法,这些投影数据被用来重建光纤内部折射率的三维空间分布。
实验结果显示,该系统对于普通单模光纤和熊猫型保偏光纤的样品都能提供准确的测量,这表明这种方法具有广泛的应用潜力,尤其是在光纤制造、通信工程以及光子学等领域,对于光纤材料性能的精确评估具有重要意义。
关键词包括全息、断层成像、三维折射率测量和滤波反投影算法,这些都是论文的核心技术手段和研究内容。论文引用了特定的中图分类号和文献标识码,显示出其在学术界的定位。这项研究为光纤折射率的非侵入性、高精度测量提供了新的可能性,对提高光纤性能检测的效率和准确性具有重要的科学价值。
2021-02-05 上传
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