光子型微波频率测量新方案：正交光功率比值设计

本文主要探讨了一种利用光子技术实现微波频率测量的新方案——采用正交光功率比值的方法。该方法的核心思想是将待测微波信号通过外调制器加载到连续光源上，通过单边带载波抑制调制技术，只得到一个单边带的光信号。然后，这个光信号经过光学梳状滤波器处理，滤除其他频率成分，使得在输出端可以观察到两个光功率信号，这两个信号分别呈现出余弦函数和正弦函数的特性，随微波频率的变化规律。 这两大光功率被分别定义为正交光功率比值，它们在梳状滤波响应的自由频谱区间内提供了关于频率的独特信息。文章设计了两种具体的实现策略：一是使用两个连续光源和一个光学梳状滤波器的组合，另一种则是单一连续光源配合两个光学梳状滤波器。作者重点验证了第二种方案的可行性，其优势在于测频范围得到了显著扩展，特别是在级联或并联型测频结构设计中，具有明显的优势和广泛的应用潜力。 相比于已有的微波频率测量技术，这种采用正交光功率比值的方法具有更高的精度和更大的适应性，尤其是在复杂的微波环境中，能提供更为精确的频率测量结果。此外，由于其光子学的特性，这种方法还具有体积小、功耗低等优点，这对于现代通信系统和雷达等应用领域来说，具有很高的实用价值。 本文关键词涵盖了信号处理、微波频率测量、微波光子学以及光功率检测等多个关键领域，强调了这项技术在提高测量精度和灵活性方面的突破。这篇文章为我们提供了一种创新且实用的微波频率测量手段，对于推动相关领域的科研和技术发展具有重要意义。