Flask-Admin搭建图形化管理界面教程：扫描链输入激励应用

"该资源是一本关于数字IC系统设计的书籍，主要涵盖了IC系统设计的各个方面，包括概述、算法与架构、逻辑设计、综合技术、可测性设计、静态时序分析、形式验证以及低功耗设计等内容。书中特别提到了片上系统(System On a Chip, SOC)的发展趋势和挑战，如设计复杂性增加、设计风险提升以及深亚微米设计中的技术问题，如连线延时和串扰分析。此外，还强调了基于IP的开发模式在片上系统设计中的重要性，以及设计复用、验证、集成和软硬件协同设计的关键点。" 在《数字IC系统设计》一书中，第六章专注于可测性设计。在现代集成电路设计中，可测性设计(Design for Testability, DFT)是至关重要的，因为它确保了IC在制造过程和使用过程中能够进行有效的测试和故障诊断。可测性设计通常涉及添加额外的硬件逻辑，如扫描链，以允许测试激励通过芯片的输入并在输出捕获响应，如图6.11所示的“通过扫描链输入激励”示例。这种技术有助于在制造阶段检测并隔离缺陷，从而提高产品的质量和可靠性。 扫描链是一种常见的DFT技术，它允许通过一组控制信号顺序地加载测试数据到电路内部的各个触发器，然后读出响应。这使得可以对整个电路进行全面的、自动化测试，而无需为每个逻辑门单独提供测试路径。扫描链的使用简化了测试过程，减少了测试时间，并降低了测试成本。 书中可能还会介绍其他DFT方法，如边界扫描(Boundary-Scan)、压缩测试(Compression Testing)、多模式测试(Multiple Mode Testing)等，这些方法都旨在提高测试覆盖率，减少测试时间和资源。边界扫描尤其适用于板级测试，其中每个IC都有一个内置的测试结构，可以独立于系统其余部分进行测试。 此外，随着集成电路规模的不断增大，形式验证和静态时序分析也变得越来越重要。形式验证使用数学方法来证明设计是否符合其规格，而静态时序分析则评估电路在各种条件下的运行速度和稳定性，以防止时序违规导致的错误。 低功耗设计是另一个关键领域，特别是在移动设备和物联网(IoT)应用中。设计者需要考虑电源管理策略，如动态电压频率调整(DVFS)、多电压域、以及睡眠模式，以减少功耗并延长电池寿命。 这本书提供了全面的数字IC设计知识，从高层次的系统设计到深入的微电子技术，对于IC设计工程师和相关专业学生来说，是一个宝贵的资源。