JFET共漏放大电路实验：参数测试与增益分析

"实验6-结型场效应管共漏放大电路实验，旨在让学生掌握结型场效应管（JFET）放大电路的基础知识，包括结构、原理、测试方法。实验涉及利用Multisim13.0和WaveForms2015软件进行电路仿真，以及使用AD2口袋仪器、电阻、电容等硬件搭建实际电路。实验中，学生需测量JFET的主要参数，如Voff和IDSS，并基于测量数据调整仿真模型，确保仿真结果的准确性。实验电路以共漏配置构建，通过对不同电路状态的观察和计算，确定静态工作点IDQ和VGSQ，并计算增益。同时，实验还包括对输入输出波形的分析，以验证电路性能。" 实验内容详解： 1. **测量JFET参数**：在实验中，首先需要测量JFET的漏极饱和电流IDSS和截止电压Voff。IDSS是在栅源为0偏压时，源极（同时也是漏极）的电流。Voff则是在特定漏极电流下，使晶体管截止的栅源电压。2SK30A的参数具有一定的分散性，因此实际测量的数据将用于后续计算。 2. **电路搭建**：实验电路分为两种配置，一是测量IDSS的电路，二是测量Voff的静态自给偏压偏置电路。前者通过0偏压设置测量IDSS，后者用于测定VGS和ID，进而计算Voff。 3. **模型参数调整**：利用测量的IDSS和Voff，可以修改仿真软件中Shichman-Hodges模型的参数VT0（截止电压）和BETA（跨导系数）。这一步对于确保仿真结果与实际电路行为的一致性至关重要。 4. **计算静态工作点**：理论计算IDQ和VGSQ，这需要运用到JFET的特性方程。同时，通过新建的模型进行仿真，以及实际电路测试，获取并比较静态工作点，填写在表6-2中。 5. **增益计算与波形分析**：使用100mV 1kHz的正弦信号作为输入，通过实验和仿真获取输入输出波形，对比峰-峰值来计算增益。增益的计算涉及到电压放大倍数，它反映了电路放大信号的能力。 通过以上步骤，实验者不仅可以深入理解JFET的工作原理，还能掌握电路设计、测试和仿真的实践技能，为后续的电路分析和设计打下坚实基础。