CCD图像传感器的漏光与残像现象解析

"《CCD/CMOS图像传感器基础与应用》由日本的米本和也撰写，由陈榕庭、彭美桂翻译，并由崔凯校对。这本书详细介绍了CCD图像传感器和CMOS图像传感器的基础知识、工作原理、特性和应用。书中通过丰富的插图，帮助读者理解这两种传感器的构造、工作方式以及在不同领域，如手机、个人计算机和PDA中的应用。同时，还探讨了随着片上系统技术的发展，CMOS图像传感器在更多领域的潜力和应用。" 《漏光上下拉线的理由-预积分总结与公式推导20180827》这篇内容主要关注的是CCD图像传感器在实际应用中遇到的问题，特别是漏光现象。漏光是由于在垂直CCD中信号电荷转移完成后，残留的漏光电荷在下一次读取时会导致上方和下方的信号电荷受到影响，从而在连续帧中产生上下的均匀漏光。如果垂直CCD的转移不规则，例如在防抖操作中，漏光可能会变得不均匀。此外，漏光可能源于光电二极管附近的电子扩散等因素。为了衡量漏光抑制效果，通常会设置光源高度为视场角的十分之一。 另一方面，残像是CCD图像传感器的另一个重要特性。当拍摄对象的光消失后，信号会在几帧内残留，导致动态物体出现拖尾效果。这是因为光电二极管内的信号电荷未能完全被读出，残留的电荷会在后续的场中逐渐释放，造成动态画面的模糊。 这些知识点强调了CCD图像传感器在实际操作中的挑战，包括漏光和残像问题，以及这些问题的成因和解决方案。对于从事图像传感器设计、开发和应用的工程师来说，理解这些现象及其影响至关重要。