数字电路模型与描述方法详解：从开关函数到VLSI测试

本资源主要探讨了数字电路中的各种模型和描述方法，这些在电路设计、制造和测试中起着至关重要的作用。首先，电路模型可以分为逻辑模型、行为模型和结构模型，其中逻辑模型关注的是输入输出（I/O）的数值变换关系，不涉及时间因素；行为模型则是包含时间关系的逻辑模型，它反映了电路的实际运行过程；结构模型则基于电路元器件的连接关系来描述。 核心概念是开关函数，这是逻辑设计中常用的一种组合函数，特别是一组布尔函数的简化形式。开关函数定义为，给定n个逻辑变量，其值为0或1，函数的输出取决于这些变量的赋值和运算关系。由于每个变量有两种可能的取值，n个变量会有2^n个最小项，从而形成2^(2^n)个不同的开关函数。例如，对于两个变量A和B，它们的函数可以通过二进制表示，如(AB+AB+AB+AB)。 电路设计表达包括数学方程、表格（如真值表和状态表）、图示（如BDD图）以及HDL语言（如Verilog或 VHDL）的描述。BDD图是一种图形化工具，用于表示逻辑函数的布尔代数表示，有助于理解和分析复杂电路。 此外，还提到了VLSI（Very Large Scale Integration，超大规模集成电路）的测试方法学和可测性设计。VLSI测试涉及到电路测试的各个方面，如电路测试的基本概念、数字电路的描述和模拟方法、组合电路和时序电路的测试生成策略，以及专用可测性设计、扫描和边界扫描技术、IDDQ测试、随机和伪随机测试方法等。书中还涵盖了内存和SoC（System-on-Chip，片上系统）等的可测性设计，强调了测试在集成电路设计流程中的关键作用，并为设计、制造、测试和应用的专业人员提供了一个交流平台。 《VLSI测试方法学和可测性设计》这本书作为教材，适合从事集成电路设计、制造、测试、应用，以及EDA（Electronic Design Automation，电子设计自动化）和ATE（Automatic Test Equipment，自动测试设备）领域的专业人士，同时也是高级院校学生的教材，旨在深入理解并掌握VLSI测试技术和可测性设计的基本原理和实践方法。版权信息表明，未经授权复制或抄袭是严格禁止的。