高斯光束影响太赫兹雷达散射截面：平板突起的仿真分析

"高斯光束对平板上突起的单站太赫兹雷达散射截面的影响" 本文深入探讨了高斯光束在太赫兹雷达散射截面（RCS）测量中的影响，特别是在缩比模型测量中的应用。RCS测量是评估物体在雷达系统中可探测性的关键参数，而缩比模型测量方法因其时间和成本效益在这一领域受到重视。太赫兹波的特性，如较长的波长，使其特别适用于雷达散射截面的缩比测量。 文章中提到，对于粗糙表面的RCS计算，常将模型简化为带有突起的平板。然而，传统的平面波入射理论并不完全适用于太赫兹波源产生的高斯光束。高斯光束具有能量分布不均匀的特性，这导致使用高斯光束时的雷达散射截面与平面波入射的情况存在差异，进而可能使测量结果与理论计算之间产生误差。 为了研究这一问题，作者利用镜像法进行了仿真计算，研究了2.52 THz频段下，高斯光束照射平板突起时的雷达散射截面。通过对二维和三维场景的比较，揭示了高斯光束对散射结果的具体影响。这种分析有助于更准确地理解实际测量中可能出现的误差，并为改进太赫兹RCS测量提供理论依据。 关键词涵盖遥感、太赫兹技术、雷达散射截面、突起结构以及高斯光束，表明研究的核心集中在这些领域。通过这种详细的研究，不仅可以提升太赫兹雷达系统的性能，还能促进在遥感、军事和通信等领域的应用。因此，对于理解和优化基于高斯光束的太赫兹RCS测量系统来说，这项工作具有重要意义。