优化低电流测量：研发实验室新测试方法

" Keithley公司的电子实验室测试方法，旨在帮助电子设计人员解决2009年最棘手的电气测量问题，提供新测试方法优化低电流测量。通过访问www.keithley.com，用户可以获取关于屏蔽与非屏蔽测量在100GΩ电阻上的对比，以及如何充分利用低电流测量仪器的相关应用笔记和在线网络研讨会。" 在研发实验室中，测试新方法对于推动技术创新至关重要。"研发实验室测试新方法"这个主题涉及的是电子工程领域中的测试流程改进，特别是针对电子设计人员的需求。此资源特别强调了低电流测量的优化，这对于检测场效应晶体管（FETs）的门漏电流和测试敏感纳米电子设备是必不可少的。 在低电流测量中，精度往往是一个关键指标，可能需要测量皮安级别（picoampere）甚至更低的电流。为了实现这样的高精度测量，不仅需要灵敏度极高的电流表，还需要掌握正确的测量设置选择、低噪声夹具和电缆的选择、足够的稳定时间设定，以及防止不期望的电流干扰精度的技术。通过访问www.keithley.com提供的应用笔记和在线网络研讨会，用户可以学习如何更有效地进行这些测量。 资源中提到了"Shielded vs. unshielded measurements on a 100GΩ resistor"，这涉及到在高阻抗环境下进行测量时，屏蔽和非屏蔽测量的区别。屏蔽测量通常能更好地保护测量系统免受外部电磁干扰，从而提高测量的准确性和可靠性。 此外，用户可以通过点击链接或发送电子邮件至koh_william@keithley.com获得专业应用建议。通过这些联系方式，可以与专家直接沟通，获取关于具体应用的个性化指导，从而提升低电流测量的效率和质量。 这个资源提供了全面的指导，涵盖了从理论到实践的多个方面，帮助电子工程师应对低电流测量挑战，提升其在研发实验室中的测试能力。