基恩士LK-G系列CCD激光位移传感器:超精度,长距离测量
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更新于2024-08-01
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"基恩士的CCD位移传感器提供了超高的精度,可达±0.03%,并能实现最大1,000mm的长距离测量。LK-G系列是其创新的CCD激光位移传感器,具备50kHz的超快速度和0.01µm的超高再现性。该系列包括不同型号,如LK-G500/505适用于超长距离,LK-G400/405和LK-G150/155用于长距离,LK-G80/85则针对中等距离,而LK-G30/35和LK-G10/15则提供高精度和超精确测量。产品还配备了全新的算法,如RPD算法处理半透明物体,多重ABLE控制应对多重反射,以及MRC算法处理透明物体。此外,基恩士的Li-CCD技术增强了在长距离上的反射光接收能力,确保高精度。控制器方面,有集成控制器LK-G3001(P)V和独立控制器LK-G3001(P),以及带显示面板的LK-GD500,其中LK-G3001(P)V还配备嵌入式显示和数据存储功能。这些传感器广泛应用于LED基板检查、半导体/LCD、汽车/运输、塑料/橡胶/薄膜等行业,可用于测量厚度、高度、位移、变形等多种任务。"
基恩士的CCD位移传感器是一种先进的测量工具,其核心特点在于其超高的精度和速度。这款传感器可以实现±0.03%的误差率,满足对微小变化的敏感检测需求。同时,它能在最大1,000mm的范围内进行测量,远超同类产品,极大地扩展了应用范围。LK-G系列是基恩士的代表作,涵盖多种型号,以适应不同的测量距离和精度要求。
在技术层面,基恩士的CCD激光位移传感器采用了一系列创新算法。例如,ABLE(活动平衡激光控制引擎)能够智能控制激光发射时间、激光功率及增益,确保在精确度、速度和灵敏度方面的优越表现。同时,针对不同类型的物体,如半透明或透明物体,有RPD算法和多重ABLE控制以及MRC算法来优化测量效果。
硬件方面,传感器采用Li-CCD技术,改进了外壳设计并利用三角切割技术,提高了在长距离上接收反射光的精确性,这对于保持高精度测量至关重要。此外,控制器的设计也极具特色,LK-G3001(P)V作为一体化控制器,集成了显示和数据存储功能,而LK-G3001(P)和LK-GD500则是独立控制器和显示面板,提供操作便利性。
在实际应用中,这些传感器被广泛应用在多个领域。例如,在LED基板检查中调整聚焦,测量半导体晶片的位移,控制汽车行业的内倾/外倾角,检测塑料/橡胶制品的厚度,以及在金属行业中测量钢板的厚度和宽度等。无论是在精密电子还是在传统制造业,基恩士的CCD位移传感器都能提供可靠的测量解决方案,确保生产过程中的高精度和稳定性。
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guizhiqiang
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