优化衰减时间测量：Actel FPGA原型图中的波形分析

本篇文章主要探讨的是高速数字电路设计中的一个重要主题——波形衰减时间和相关效应在实际应用中的评估。作者首先指出在感抗测试中，由于测试装备的开路上升时间与期望特性衰减时间的比例较小，这导致初始阶跃响应上升还未完成时，测试波形就开始衰减，形成非指数曲线。例如，在图1.14中，波形峰值只有250mv，而开路的渐近值为417mv，这意味着仅依赖于指数时间常数并不能准确反映电感特性。 为了得到更精确的衰减时间，作者建议在离初始化过程较远的位置测量衰减常数，这样波形会更加接近理想指数衰减。然而，实际操作中受到寄生耦合、反射和噪声的影响，使得远离屏幕右方的波形难以精确观测。章节1.8.1重点介绍了如何在响应曲线下测试覆盖面积，以确保对电路性能的全面评估。 文章还涉及到了共模电感和串扰的相关概念，如共模电容与串扰的关系，以及翻转磁耦合环和电容耦合与电感耦合的比例。这些都是高速数字电路设计中必须理解和处理的关键因素，因为它们直接影响信号的完整性与干扰。 书中提到，由于高速数字电路中信号变化快速，模拟电路原理在此类电路中的影响显著，可能导致信号失真、串扰和毛刺等问题。本书作为"黑宝书"，旨在帮助设计工程师理解和解决这些问题，包括问题的根源和解决策略，即使对于缺乏专业模拟电路设计训练的读者，书中的公式和实例也有其指导价值。 本文是对高速数字电路设计中衰减时间测量方法的深入解析，强调了共模电感、串扰等相关效应的重要性，并提供了实用的设计指导，对从事高速电路设计的专业人士具有很高的参考价值。